超聲檢測

衍射時差檢測

衍射時差法（TOFD）是一種使用兩個探頭以一發(fā)一收模式進行檢測的技術(shù)。TOFD探測并記錄來自缺陷端部的衍射信號，從而進行缺陷探測和缺陷定量。TOFD數(shù)據(jù)顯示在灰度圖象B掃描視圖中。TOFD檢測方法符合ASME?2235規(guī)范，覆蓋范圍寬，且對缺陷進行定量時無需考慮波幅。

• 單線掃查，進行全體積檢測。
• 進行設(shè)置時，無需考慮焊縫結(jié)構(gòu)。
• 對于各種缺陷都非常靈敏，且不受缺陷方向影響。

衍射時差（TOFD）和脈沖回波檢測

盡管TOFD是一種非常強大有效的檢測技術(shù)，但由于兩個檢測盲區(qū)的存在，其覆蓋范圍又有局限性。兩個盲區(qū)的位置在近表面和底面。

OmniScan® UT的檢測可同時使用TOFD與常規(guī)脈沖回波方法。脈沖回波法可以覆蓋盲區(qū)，從而彌補了TOFD的不足之處。

• TOFD檢測。
• 45º脈沖回波法，用于從焊縫兩側(cè)對焊冠進行檢測。
• 60º脈沖回波法，用于從焊縫兩側(cè)對焊根進行檢測。

零度檢測（腐蝕和復(fù)合材料）

零度檢測測量從工件反射到閘門中的超聲回波的傳播時間和波幅，以便對缺陷進行探測和測量。

• C掃描成像
• 帶有C掃描后處理的完整A掃描記錄

超聲軟件

全功能C掃描

• 監(jiān)控每個閘門中的波幅、峰值位置、穿出閘門閾值位置和厚度。
• 自動閘門與前面的閘門同步，從而得到更大的厚度動態(tài)范圍。
• A掃描數(shù)據(jù)存儲和C掃描后處理功能。
• 可選IF閘門，用于界面跟蹤同步、測量閘門，或TCG/DAC曲線。
• 射頻信號上的正閘門或負閘門（閘門間彼此獨立）。
• 8路可被*配置的報，用于單閘門或多閘門中的事件；濾波器，可設(shè)定單通道或多通道的事件次數(shù)。
• 用戶可定制彩色調(diào)色板，用于波幅和厚度C掃描。
• 顏色可調(diào)，彩色調(diào)色板有256種顏色。
• 雙軸***械編碼功能，數(shù)據(jù)采集和***械掃查同步。
• 可選數(shù)據(jù)庫，便于用戶在個人計算***上處理A掃描和（或）C掃描。

全功能B掃描

• 便于判讀的被檢工件橫截面視圖。
• 鍋爐、管道、儲物容器的腐蝕圖像的清晰顯示。
• 采集到的厚度值一目了然。
• 編碼TOFD功能，用于無需考慮波幅因素的缺陷定量。

全功能A掃描

• A掃描顯示的顏色可選。
• 抑制模式。
• 無填充模式。
• 峰值鎖定模式（始終保持閘門A中帶有zui大波幅的信號）。
• 閘門閾值穿出（超過閘門閾值的那部分曲線的顏色改變）。
• 60 Hz的A掃描刷新率，帶有包絡(luò)覆蓋和閘門內(nèi)峰值。

逐步校準向?qū)?/strong>

所有的校準過程均根據(jù)逐步向?qū)нM行。

• 聲速校準
• 楔塊延遲校準
• TOFD校準
• TCG校準
• 編碼器校準

TOFD選項

• B掃描編碼數(shù)據(jù)成像和儲存
• 灰色調(diào)調(diào)色板，亮度和對比度可調(diào)
• 100 MHz A掃描數(shù)字化
• TOFD在線和離線校準向?qū)?/li>
• 雙曲線指針和TOFD定量讀數(shù)
• 直通波的再次同步